Найдено: 17
圓
ГОСТ Р 8.696-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
圓
ГОСТ Р 8.697-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
圓
ГОСТ Р 8.628-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
圓
ГОСТ Р 8.592-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
圓
ГОСТ 8.592-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
圓
ГОСТ Р 8.644-2008 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки
圓
ГОСТ Р 8.629-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
圓
ГОСТ Р 8.591-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
圓
ГОСТ 8.591-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
圓
ГОСТ Р 8.700-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
圓
ГОСТ Р 8.635-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки
圓
ГОСТ Р 8.630-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
圓
ГОСТ 8.593-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
圓
ГОСТ Р 8.636-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
圓
ГОСТ Р 8.631-2007 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
圓
ГОСТ 8.594-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
圓
ГОСТ Р 8.698-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра