ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

ГОСТ Р

Скачать ГОСТ в PDF или DOC бесплатно

📄 Скачать PDF 📝 Скачать DOC

Основная информация

Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017

Статус: Действует

Тип: ГОСТ Р

Название русское: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Название английское: Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation

Даты и сроки

Дата издания: 04-17-17

Дата введения в действие: 01-01-18

Дата завершения срока действия: -

Применение и описание

Область и условия применения: Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации