ГОСТ ISO 16000-27-2017 Воздух замкнутых помещений. Часть 27. Определение наличия осевшей волокнистой пыли на поверхностях с помощью СЭМ (сканирующего электронного микроскопа) (прямой метод)

ГОСТ ИСО

Скачать ГОСТ в PDF или DOC бесплатно

📄 Скачать PDF 📝 Скачать DOC

Основная информация

Обозначение: ГОСТ ISO 16000-27-2017

Статус: Действует

Тип: ГОСТ ИСО

Название русское: Воздух замкнутых помещений. Часть 27. Определение наличия осевшей волокнистой пыли на поверхностях с помощью СЭМ (сканирующего электронного микроскопа) (прямой метод)

Название английское: Indoor air. Part 27. Determination of settled fibrous dust on surfaces by SEM (scanning electron microscopy) (direct method)

Даты и сроки

Дата регистрации: 11-30-17

Дата издания: 05-28-18

Дата введения в действие: 01-01-19

Применение и описание

Область и условия применения: Настоящий стандарт устанавливает методику определения количественного содержания волокнистых структур с волокнами диаметром равным или более 0,2 мкм в осевшей на поверхности пыли и их классификацию по конкретным группам веществ (например, хризотиловый асбест, амфиболовый асбест, другие неорганические волокна). В первую очередь метод применяют к замкнутым помещениям, но он также подходит для определенных случаев на открытом воздухе. Приведена техника отбора проб для улавливания осевшей пыли с использованием липкой ленты. Метод включает в себя аналитический подход для оценки отобранных проб с помощью сканирующей электронной микроскопии. Результат может быть получен в структурных единицах асбеста на единицу площади и/или в качестве классификации по четырем различным классам загрузки. Чувствительность анализа зависит от исследуемой области и может составлять даже 10 структур/см кв. В целях настоящего стандарта асбестовую или волокнистую структуру определяют как частицу, содержащую асбест или (другие органические/неорганические) волокна, независимо от их диаметра

Описание стандарта

ГОСТ ISO 16000-27-2017 Воздух замкнутых помещений. Часть 27. Определение наличия осевшей волокнистой пыли на поверхностях с помощью СЭМ (сканирующего электронного микроскопа) (прямой метод)